会议主题:采用开放的硬件在环(HIL)平台降低测试成本和复杂性
会议时间:2015-11-27 14:00 至 15:00
主题介绍:
毫无疑问,有很多新的趋势正在推动各行各业开发更多创新的功能,但是当我们研究许多关键行业在嵌入式电子控制系统的创新时,我们会发现这些新的趋势正在为我们带来更多新的挑战。无论是我们在新闻中听到的话题,比如乘客乘车安全,还是汽车娱乐系统的不断升级,又或者甚至是减少尾气排放,这些都在迫使企业必须不断创新,用新功能来满足消费者和法规要求。这意味着需要越来越多的电子设备去执行更多的运算以及做更多的决策,本次在线座谈就让我们一起来探讨如何应对这些创新所带来的新的测试挑战。
公司介绍:
从1976年开始,美国国家仪器(www.ni.com)就为工程师和科学家提供各种工具来加速生产、创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了一个将软硬件结合在一起的平台,有助于加速测量和控制系统的开发过程。公司的长期愿景和通过技术提高社会发展水平的理念为客户、员工、供应商和股东的成功提供支持。
Since 1976, NI (www.ni.com) has made it possible for engineers and scientists to solve the world’s greatest engineering challenges with powerful platform-based systems that accelerate productivity and drive rapid innovation. Customers from a wide variety of industries – from healthcare to automotive and from consumer electronics to particle physics – use NI’s integrated hardware and software platform to improve the world we live in.
演讲人介绍 |
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演讲人:马力斯
简介:毕业于法国里昂国立应用科学院(INSA de Lyon),电气工程学院,现为NI中国应用工程师,从事技术支持,客户培训等工作。熟悉LabVIEW、工业总线、自动化测试和嵌入式RIO架构等技术领域。
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